Knihy od autora Paul S. Ho

Zobrazeno 1 – 10 z 10 výsledků

1. 

   Stress-Induced Phenomena in Metallization

   Paul S. Ho, Shefford P. Baker, Tomoji Nakamura, Cynthia A. Volkert | Springer, Berlin, 2005

   
   

   50 % šance - Prohledáme celý svět

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   4821 Kč

   Koupit
2. 

   Low Dielectric Constant Materials for IC Applications

   Paul S. Ho, Wei William Lee, Jihperng Leu | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, 2012

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   5094 Kč

   Koupit
3. 

   Stress-Induced Phenomena in Metallization

   Ehrenfried Zschech, Karen Maex, Paul S. Ho, Hisao Kawasaki | Springer, Berlin, 2006

   
   

   50 % šance - Prohledáme celý svět

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   4889 Kč

   Koupit
4. 

   Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309

   Kenneth P. Rodbell, William F. Filter, Harold J. Frost, Paul S. Ho | Cambridge University Press, 2014

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 14-18 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   1054 Kč

   Koupit
5. 

   Stress Induced Phenomena in Metallization

   Shefford P. Baker, Matti A. Korhonen, Eduard Arzt, Paul S. Ho | Springer, Berlin, 2002

   
   

   50 % šance - Prohledáme celý svět

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   3233 Kč

   Koupit
6. 

   Stress-Induced Phenomena in Metallization

   Shinichi Ogawa, Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech | Springer, Berlin, 2007

   
   

   50 % šance - Prohledáme celý svět

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   4577 Kč

   Koupit
7. 

   Stress-Induced Phenomena in Metallization

   Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech, Shinichi Ogawa | Springer, Berlin, 2011

   
   

   50 % šance - Prohledáme celý svět

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   2904 Kč

   Koupit
8. 

   Low Dielectric Constant Materials for IC Applications

   Paul S. Ho, Jihperng Leu, Wei W. Lee | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, 2002

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   5094 Kč

   Koupit
9. 

   Stress-Induced Phenomena in Metallization

   Ehrenfried Zschech, Shinichi Ogawa, Paul S. Ho | Springer, Berlin, 2010

   
   

   50 % šance - Prohledáme celý svět

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   3650 Kč

   Koupit
10. 

    Advanced Interconnects for ULSI Technology

    Mikhail Baklanov, Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech | John Wiley & Sons Inc, 2012

    
    

    Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-17 dnů

    Jazyk: Angličtina

    Vazba: Pevná

    6741 Kč

    Koupit

Výběr z milionů titulů vám jen tak někdo nenabídne. Zjistěte více